Resum
A simple and fast method for the treatment of fungal samples for its observation by scanning electron microscopy is described. The procedure is an alternative to the conventional desiccation of the critical point drying technique.
Títol traduït de la contribució | Treatment of fungal samples for its observation by scanning electron microscopy |
---|---|
Idioma original | Castellà |
Pàgines (de-a) | 7-10 |
Nombre de pàgines | 4 |
Revista | Afinidad |
Volum | 62 |
Número | 515 |
Estat de la publicació | Publicada - de gen. 2005 |